射频同轴微带连接器的测试样件及其测试方法

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专利名称	射频同轴微带连接器的测试样件及其测试方法
申请号	CN200610041798.X	申请日期	2006-02-20
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2007-08-29	公开/公告号	CN101025428
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00） G01R27/04 在具有分布常数的电路中的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;0;4;;;G;0;1;R;2;7;/;0;6;;;G;0;1;R;2;7;/;3;2;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	西安科耐特科技有限责任公司	申请人地址	陕西省西安市电子城西部电子社区CNT楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安科耐特科技有限责任公司	当前权利人	西安科耐特科技有限责任公司
发明人	张志谦
代理机构	西安文盛专利代理有限公司	代理人	吕宏

摘要

一种射频同轴微带连接器的测试样件及其测试方法，是将两个连接器(6)的输出端互相对接，并在对接处夹有导电锡纸(3)。两个连接器(6)由固定板(4)和螺栓(5)紧固。该测试方法按开路校准、短路校准、校“0”的测试步骤进行。该测试方法可准确测出单个射频同轴微带连接器的电压驻波比和插入损耗。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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