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一种金属性和半导体性单壁碳纳米管的同步分离与组装方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610113211.1
  • IPC分类号:C01B31/02;B82B3/00
  • 申请日期:
    2006-09-19
  • 申请人:
    北京大学
著录项信息
专利名称一种金属性和半导体性单壁碳纳米管的同步分离与组装方法
申请号CN200610113211.1申请日期2006-09-19
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2008-03-26公开/公告号CN101148253
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C01B31/02IPC分类号C;0;1;B;3;1;/;0;2;;;B;8;2;B;3;/;0;0查看分类表>
申请人北京大学申请人地址
北京市海淀区颐和园路5号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京大学当前权利人北京大学
发明人陈卓;刘忠范;吴忠云;童廉明
代理机构北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)代理人余长江
摘要
本发明的目的在于提供一种金属性和半导体性单壁碳纳米管的同步分离与组装方法,该金属性和半导体性单壁碳纳米管的同步分离与组装方法包括如下步骤:通过常规光刻在含二氧化硅的衬底上制备金电极的步骤;利用聚焦离子束在电极上刻出若干个间隙的步骤;将上述电极浸入到单壁碳纳米管的DMF溶液的步骤;施加大小为2~8V、频率为1~10Hz的电场的步骤。本发明的金属性和半导体性单壁碳纳米管的同步分离与组装方法不仅简单、可控、高效,而且,能够有效提高碳纳米管电子逻辑器件以及场效应器件的性能和集成度,为碳纳米管结构的制备和实用化提供了一条可行的途径。

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