一种半导体激光器件测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201911275409.3
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2019-12-12
申请人：
苏州长光华芯光电技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种半导体激光器件测试装置
申请号	CN201911275409.3	申请日期	2019-12-12
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2020-04-21	公开/公告号	CN111044872A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	苏州长光华芯光电技术有限公司	申请人地址	江苏省苏州市高新区昆仑山路189号科技城工业坊-A区2号厂房-1-102、2号厂房-2-203 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州长光华芯光电技术股份有限公司	当前权利人	苏州长光华芯光电技术股份有限公司
发明人	潘华东;郭学文;王俊;谭少阳;周立;俞浩
代理机构	北京三聚阳光知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种半导体激光器件测试装置，包括温控底座，用于进行温度调节，在温控底座的一侧设置有用于输入输出冷却水的出水口及进水口，另一侧设置有用于放置加热模块的孔洞；限位板，限位板固定在温控底座上，设置有至少一个卡槽，用于放置被测半导体激光器；探针固定结构，设置于温控底座上，探针固定结构上设置有用于容置探针的空间；至少两对探针，设置于探针固定结构上，其中一对探针与被测半导体激光器的正极接触，另一对探针与被测半导体激光器的负极接触，至少两对探针通过探针板与电源连接。通过温控底座与温控器来保证老化维持在所需温度，通过探针固定结构和限位板固定探针与被测半导体激光器，实现多个半导体激光器的老化。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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