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一种工件表面粗糙度辅助测量装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202121379955.4
  • IPC分类号:G01B21/30
  • 申请日期:
    2021-06-21
  • 申请人:
    华侨大学
著录项信息
专利名称一种工件表面粗糙度辅助测量装置
申请号CN202121379955.4申请日期2021-06-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B21/30IPC分类号G;0;1;B;2;1;/;3;0查看分类表>
申请人华侨大学申请人地址
福建省泉州市城华北路269号华侨大学 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华侨大学当前权利人华侨大学
发明人程家威;沈剑云;吴贤
代理机构泉州市文华专利代理有限公司代理人陈云川
摘要
本实用新型公开了一种工件表面粗糙度辅助测量装置,包括基座、支撑板、第一滑块、升降调节装置、微调装置以及可固定手持式粗糙度仪的置物板,支撑板与升降调节装置相连接,微调装置包括多组可调节的螺母和螺栓,各螺栓的外部套设有弹簧,支撑板和置物板分别与各螺栓相连接,且弹簧设置在支撑板与置物板之间。本实用新型通过第一滑块和升降调节装置,实现置物板的水平调节和高度调节,通过微调装置实现置物板上的手持式粗糙度仪的自由度的微调,使得仪器探头与工件表面更为紧密贴合。本实用新型十分便捷,易于操作,同时避免了因为手的抖动带来的测量误差,提升了测量工件表面粗糙度的准确性与快速性,避免了人为与工作环境因素的影响。

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