转塔式测试设备及其转塔式测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710076189.6
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2017-02-13
申请人：
华邦电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	转塔式测试设备及其转塔式测试方法
申请号	CN201710076189.6	申请日期	2017-02-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-08-21	公开/公告号	CN108427043A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	华邦电子股份有限公司	申请人地址	中国台湾台中市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华邦电子股份有限公司	当前权利人	华邦电子股份有限公司
发明人	傅廷明
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	郭晓宇

摘要

本发明提供了一种转塔式测试设备及其转塔式测试方法，其中转塔式测试设备，适于对一电子元件进行测试，该电子元件包括一元件本体以及多个引脚。该转塔式测试设备包括一吸嘴、一作业基台、一测试座以及一抵接单元。吸嘴适于吸附该元件本体以移动该电子元件。测试座设于该作业基台，该吸嘴将该电子元件移动至该测试座以进行测试程序，包括一耦接单元以及一主动部。耦接单元包括一耦接部、一压接脚部以及一弹性结构，该弹性结构连接该压接脚部。主动部连接该弹性结构。在一取放状态下，该抵接单元对该主动部施加一反作用力，在一测试状态下，该主动部所受到的该反作用力被释放。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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