非接触式磁性颗粒检查设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201210114999.3
IPC分类号：G01N27/82
申请日期：
2012-04-11
申请人：
通用电气公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	非接触式磁性颗粒检查设备
申请号	CN201210114999.3	申请日期	2012-04-11
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-10-17	公开/公告号	CN102735744A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/82 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/72 通过测试磁变量 G01N27/82 用于测试缺陷的存在	IPC分类号	G01N27/82查看分类表>
申请人	通用电气公司	申请人地址	美国*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	通用电气公司	当前权利人	通用电气公司
发明人	R·W·伯格曼
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	李强;谭祐祥

摘要

本发明涉及非接触式磁性颗粒检查设备。一种非接触式磁性颗粒检查设备包括测试物品支承和操纵系统，测试物品支承和操纵系统具有沿着第一轴线延伸的第一轨道、沿着第一轴线延伸的第二轨道，以及沿着第二轴线延伸的第三轨道。第三轨道包括通过中间部分延伸到第二端的第一端。第一端安装到第一轨道上，而第二端安装到第二轨道上。安装夹具安装到第三轨道上。安装夹具包括测试物品安装系统和测试物品定向系统。测试物品定向系统构造成和设置成在磁场内选择性地操纵测试物品。

一种IOT接口方法、IOT设备接口和用户设备接口

发明授权

非接触式磁性颗粒检查设备

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