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一种光致荧光或散射光测量装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811477590.1
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2018-12-05
  • 申请人:
    深圳市微谱科技有限公司
著录项信息
专利名称一种光致荧光或散射光测量装置
申请号CN201811477590.1申请日期2018-12-05
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-02-01公开/公告号CN109297947A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人深圳市微谱科技有限公司申请人地址
广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区同观路转二号路华力特大厦办公楼五层 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市微谱科技有限公司当前权利人深圳市微谱科技有限公司
发明人吴雷学;王杰诚
代理机构深圳市壹壹壹知识产权代理事务所(普通合伙)代理人师勇
摘要
本发明实施例公开了一种光致荧光或散射光测量装置,由光学积分球、样品室和测量光路构成;光学积分球包括球形腔体以及球体腔室,球形腔体由基底层和漫反射层构成;样品室由样品区、进样口和出样口构成;进样口和出样口分别位于样品区的两侧;样品区贯穿整个球形腔体,样品区的主体部分位于球体腔室内;样品区采用透光且不透气材料制成;测量光路包括激发光入射口、激发光出射口和通光口,激发光入射口和激发光出射口分别设于样品区的两端,通光口开设于球形腔体上。本发明实施例通过采用光学积分球有效的接收激发光与待分析物质反应所产生的特征荧光或散射光光谱并积分,以及通过通光口形成测量通道,大大提高了测量灵敏度,降低了仪器检出限。

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