芯片验证方法、终端设备、验证平台以及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110575993.5
IPC分类号：G06F11/22
申请日期：
2021-05-25
申请人：
鹏城实验室

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著录项信息

专利名称	芯片验证方法、终端设备、验证平台以及存储介质
申请号	CN202110575993.5	申请日期	2021-05-25
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-17	公开/公告号	CN113407393A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人	鹏城实验室	申请人地址	广东省深圳市南山区兴科一街2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鹏城实验室	当前权利人	鹏城实验室
发明人	高峰;张凡;李孟;周昂
代理机构	深圳市世纪恒程知识产权代理事务所	代理人	张莉

摘要

本发明公开一种芯片验证方法，用于终端设备，方法包括以下步骤：基于目标验证计划，创建目标测试用例；将目标测试用例发送到现场可编程逻辑门阵列FPGA测试装置，以使FPGA测试装置利用目标测试用例，对FPGA测试装置中的待测试芯片进行测试，以获得测试数据；从FPGA测试装置获取测试数据；将测试数据发送至验证平台，以使验证平台，基于测试数据，获得待测试芯片的功能覆盖率；基于接收到的验证平台返回的功能覆盖率，获得待测试芯片的验证结果。本发明还公开一种终端设备、验证平台以及计算机可读存储介质。利用本发明的芯片验证方法，达到了提高芯片验证效率的技术效果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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