一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201920799179.X
IPC分类号：G01N21/64
申请日期：
2019-05-30
申请人：
中国科学院大连化学物理研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统
申请号	CN201920799179.X	申请日期	2019-05-30
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	中国科学院大连化学物理研究所	申请人地址	辽宁省大连市沙河口区中山路457-41号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院大连化学物理研究所	当前权利人	中国科学院大连化学物理研究所
发明人	隋来志;袁开军;吴国荣;张雨桐;牛光明
代理机构	沈阳科苑专利商标代理有限公司	代理人	汪海

摘要

本实用新型涉及样品光学检测领域，具体地说是一种显微成像全谱段高压模块时间分辨荧光测量系统，其中白光光源、金刚石对顶砧、物镜、分束片和透射荧光反射镜依次呈一线排列，显微成像时，可移动反射镜移动至分束片和透射荧光反射镜之间，白光光源发出的白光依次经过金刚石对顶砧、物镜和分束片后，经可移动反射镜反射射入显微成像系统中，测量时，可移动反射镜移出，脉冲激光光源发出的激光光束射入分束片中，且反射光部分经物镜会聚于金刚石对顶砧，样品辐射的荧光经物镜后射入分束片中，且透射荧光部分经透射荧光反射镜反射后经聚焦镜射入光谱仪中。本实用新型在测量前利用显微成像实现选区对焦，并可实现对高压模块全谱段时间分辨荧光的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供