一种磁电阻自动测量装置及其测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110266541.5
IPC分类号：G01R33/12
申请日期：
2011-09-09
申请人：
兰州大学;江苏多维科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种磁电阻自动测量装置及其测量方法
申请号	CN201110266541.5	申请日期	2011-09-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-04-18	公开/公告号	CN102419425A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/12 测量物品的磁性或者固体或流体样品的磁性（涉及磁共振的入G01R 33/20）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;1;2查看分类表>
申请人	兰州大学;江苏多维科技有限公司	申请人地址	甘肃省兰州市城关区天水南路222号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	兰州大学,江苏多维科技有限公司	当前权利人	兰州大学,江苏多维科技有限公司
发明人	白建民;吕华;刘明峰;王建国;薛松生
代理机构	上海海颂知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	任益

摘要

本发明公开了一种磁电阻自动测量装置及其测量方法，包括磁电阻测量单元、磁场发生单元、样品移动单元以及控制单元，首先将待测磁电阻样品通过开口放入磁场发生单元内后，由控制单元发出测量控制信号，磁电阻测量单元接收测量控制信号后，与待测磁电阻样品中的任一磁电阻芯片相连接。然后控制单元依据预设的待测磁电阻芯片所需的测量要求控制磁场发生单元产生相应的测量磁场；磁电阻测量单元依据待测磁电阻芯片所需的测量要求设置相应的电流信号，并将测量获得的电压信号发送至控制单元，由控制单元依据电流信号以及电压信号计算获得相应待测磁电阻芯片的磁电阻值。本发明能够快速准确高效的自动测量大批量磁性材料芯片磁电阻。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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