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一种集成电路板测试实验装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202120064333.6
  • IPC分类号:G01R31/28
  • 申请日期:
    2021-01-12
  • 申请人:
    安徽华为硕半导体科技有限公司
著录项信息
专利名称一种集成电路板测试实验装置
申请号CN202120064333.6申请日期2021-01-12
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人安徽华为硕半导体科技有限公司申请人地址
安徽省宿州市高新技术产业开发区同辉光电产业园3号厂房1、2楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人安徽华为硕半导体科技有限公司当前权利人安徽华为硕半导体科技有限公司
发明人李华锋
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型公开了集成电路板实验设备技术领域的一种集成电路板测试实验装置,包括工作台和壳体,所述壳体固定连接在所述工作台的顶部左侧,所述工作台的顶部右前侧固定连接有箱体,所述壳体的前侧壁中间铰接有防护门,所述壳体的顶部中间插接有空气净化器,所述壳体的内侧壁上侧之间固定连接有连接杆,所述壳体的内侧壁左右两侧中间固定连接有安装板,所述安装板的内侧壁中间转动连接有气泵,所述气泵的内侧壁中间固定连接有第一电动升降杆,该集成电路板测试实验装置,结构设计合理,提高了实验测试效率,极大的降低了静电的产生,避免了集成电路板在实验测试过程中因静电损坏,提高了实验装置的实用性。

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