一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210379407.0
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2012-10-09
申请人：
哈尔滨工程大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法
申请号	CN201210379407.0	申请日期	2012-10-09
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2013-02-13	公开/公告号	CN102928199A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	哈尔滨工程大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工程大学	当前权利人	哈尔滨工程大学
发明人	杨军;苑勇贵;彭峰;苑立波
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供的是一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法。包括宽谱光源（301）、起偏器（311）、待测偏振器件（632）、光程相关器（640）、偏振串扰检测与信号记录装置（150），宽谱光源（301）通过起偏器（311）、第1旋转连接器（631）与待测光纤器件（632）连接后，再通过第2旋转连接器（633）与光程相关器（640）连接。本发明可以极大地抑制噪声幅度，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，广泛用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析中。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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