端子压接不良检测装置的压接不良判定数据制作方法以及压接不良判定数据检查方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910248538.7
IPC分类号：G01M13/00G01L5/00
申请日期：
2019-03-29
申请人：
新明和工业株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	端子压接不良检测装置的压接不良判定数据制作方法以及压接不良判定数据检查方法
申请号	CN201910248538.7	申请日期	2019-03-29
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-27	公开/公告号	CN111829761A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M13/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M13/00 机械部件的测试	IPC分类号	G01M13/00;G01L5/00查看分类表>
申请人	新明和工业株式会社	申请人地址	日本*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	新明和工业株式会社	当前权利人	新明和工业株式会社
发明人	重友悦志
代理机构	中国贸促会专利商标事务所有限公司	代理人	曾祥录

摘要

提供能够提供节省输入操作、验证操作、减少输入失误的端子压接不良检测装置的压接不良判定数据制作方法。在用于判定压接处理是否合格的压接不良判定数据制作方法中，在端子压接装置(21)中预先存储合格品用加工数据和不合格品产生用加工数据，具备：不合格品检测波形数据生成工序，根据不合格品产生用加工数据进行端子压接处理，生成表示此时的压力值的变化的检测波形数据并存储；合格品检测波形数据生成工序，根据合格品用加工数据进行端子压接处理，生成表示此时的压力值的变化的检测波形数据并存储；以及判定数据生成工程，根据在不合格品检测波形数据生成工序中存储的检测波形数据和在合格品检测波形数据生成工序中存储的检测波形数据的关系，计算基准波形数据和容许公差并生成合格/不合格判定用数据。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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