一种尺寸缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202211218094.0
IPC分类号：G01B11/00G01N21/88G01N21/01G06T7/00G06T7/11
申请日期：
2022-09-30
申请人：
中国兵器装备集团自动化研究所有限公司

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著录项信息

专利名称	一种尺寸缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
申请号	CN202211218094.0	申请日期	2022-09-30
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2022-12-06	公开/公告号	CN115435684A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G01B11/00;G01N21/88;G01N21/01;G06T7/00;G06T7/11查看分类表>
申请人	中国兵器装备集团自动化研究所有限公司	申请人地址	四川省绵阳市游仙区仙人路二*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国兵器装备集团自动化研究所有限公司	当前权利人	中国兵器装备集团自动化研究所有限公司
发明人	张向南;刘泽霖;谢松
代理机构	北京众达德权知识产权代理有限公司	代理人	南海燕

摘要

本发明公开了一种尺寸缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法可以将尺寸检测耦合到缺陷检测流程中，利用尺寸检测流程中拍摄的高对比度图像，使用传统算法快速进行前景背景的分离，提取出药条的区域图像，将其和缺陷检测拍摄图像差分后作为缺陷检测的输入图像并用以构建数据集、训练深度学习模型，从而得到了误检率和漏检率大大减低且兼顾检测速度的方法。尺寸检测和缺陷检测的耦合的方法优化参数和超参数，大大提升了检测质量。解决了传统发射药生产工艺中人工识别导致的产品质量波动性大，劳动强度大，误检、错检率高，产能低，实时性差，同时存在一定安全隐患等问题。

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