一种X射线组合折射透镜的聚焦性能测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310365961.8
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2013-08-20
申请人：
浙江工业大学

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著录项信息

专利名称	一种X射线组合折射透镜的聚焦性能测试方法
申请号	CN201310365961.8	申请日期	2013-08-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-12-18	公开/公告号	CN103454071A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	浙江工业大学	申请人地址	浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江工业大学	当前权利人	浙江工业大学
发明人	乐孜纯;董文
代理机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司	代理人	王利强

摘要

一种X射线组合折射透镜的聚焦性能测试方法，X射线光管/激光器、X射线组合折射透镜、X射线探测器件形成探测光路，包括如下步骤：（1）在显微镜下观察并制作标记标示X射线组合折射透镜的光轴；（2）将激光器移入探测光路，使得激光器与X射线组合折射透镜上的两个光轴标示线重合；（3）将激光器移出光路，同时X射线光管移入探测光路；（4）沿底座导轨纵轴方向移动金属丝，将金属丝横向移入探测光路；（5）将金属丝沿底座导轨纵轴方向向远离X射线组合折射透镜的方向移动，记录移动的位置坐标，重复步骤（4），记录X射线探测器件的探测值；（6）分析计算探测值，得到聚焦性能测试结果。本发明检测方便、大大减低成本、实用性良好。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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