加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

集成的引线接合器和具有缺陷剔除的三维测量系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201480070290.5
  • IPC分类号:H01L21/60;H01L23/544
  • 申请日期:
    2014-10-24
  • 申请人:
    飞兆半导体公司
著录项信息
专利名称集成的引线接合器和具有缺陷剔除的三维测量系统
申请号CN201480070290.5申请日期2014-10-24
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2016-08-10公开/公告号CN105849881A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/60IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;0;;;H;0;1;L;2;3;/;5;4;4查看分类表>
申请人飞兆半导体公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人飞兆半导体公司当前权利人飞兆半导体公司
发明人达伦·W·凯勒
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人林彦
摘要
本发明公开了一种装置,所述装置包括具有引线接合装置(210)、测量装置(215)和剔除装置(220)的引线接合器系统。所述引线接合装置(210)被构造为将引线接合型电互连件附接到电子组件。引线接合在第一半导体装置和第二电子装置之间形成,以形成电子组件的至少一部分。所述测量装置(215)被构造为进行与引线接合相关联的三维测量,并且所述剔除装置(220)被构造为根据所述三维引线接合测量识别应予剔除的电子组件。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供