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用于荧光检测的双结深光电二极管

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310118464.8
  • IPC分类号:H01L27/142
  • 申请日期:
    2013-04-07
  • 申请人:
    浙江工业大学
著录项信息
专利名称用于荧光检测的双结深光电二极管
申请号CN201310118464.8申请日期2013-04-07
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-07-24公开/公告号CN103219342A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/142
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;1;4;2查看分类表>
申请人浙江工业大学申请人地址
浙江省杭州市下城区潮王路18号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人浙江工业大学当前权利人浙江工业大学
发明人施朝霞
代理机构杭州天正专利事务所有限公司代理人王兵;黄美娟
摘要
基于标准CMOS工艺的双结深PN结光电二极管,由半导体硅P型衬底和N型阱构成的深结PN结光电二极管;由P型源漏注入和所述N型阱构成的浅结PN结光电二极管,所述半导体硅P型衬底为所述深结PN结光电二极管的阳极,所述N型阱为所述深结PN结光电二极管的阴极;所述P型源漏注入为所述浅结PN结光电二极管的阳极,所述N型阱为所述浅结PN结光电二极管的阴极;所述半导体硅P型衬底通过P型源漏注入形成重掺杂欧姆接触,并通过金属接触孔引出,所述N型阱通过N型源漏注入形成重掺杂欧姆接触,并通过金属接触孔引出。

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