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高强度DFN封装半导体器件

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011403577.9
  • IPC分类号:H01L23/367;H01L23/29
  • 申请日期:
    2019-02-22
  • 申请人:
    西安航思半导体有限公司
著录项信息
专利名称高强度DFN封装半导体器件
申请号CN202011403577.9申请日期2019-02-22
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-03-02公开/公告号CN112435974A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/367IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;3;6;7;;;H;0;1;L;2;3;/;2;9查看分类表>
申请人西安航思半导体有限公司申请人地址
陕西省西安市鄠邑区吕公路东段西户科技企业孵化器C3号楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安航思半导体有限公司当前权利人西安航思半导体有限公司
发明人马磊;党鹏;杨光;彭小虎;王新刚;庞朋涛;任斌;王妙妙
代理机构苏州创元专利商标事务所有限公司代理人暂无
摘要
本发明公开了一种高强度DFN封装半导体器件,包括位于环氧绝缘体中的散热焊盘、芯片和导电焊盘,所述芯片位于散热焊盘上,位于散热焊盘周边设有若干个导电焊盘,所述导电焊盘和芯片通过一引线连接;所述环氧绝缘体的原料包括以下重量份组分环氧树脂80份、线型酚醛树脂55份、液体丁腈橡胶16份、焦碳酸二乙酯8份、硅微粉80份、聚乙二醇单辛基苯基醚 0.1份、3‑氨基丙基三乙氧基硅烷2份、醋酸丁酸纤维素5份、5‑氟‑2‑甲氧基苯胺2份、2,4,6‑三(二甲氨基甲基)苯酚5份、脱模剂3份、阻燃剂10份。本发明高强度DFN封装半导体器件散热效果、力学性能优异,增强了环氧绝缘体的整体力学性能,有效保证了封装结构稳定性。

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