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测绘装置、利用其测绘目标物体的方法和计算机程序产品

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410144257.4
  • IPC分类号:G01C15/00;G01S17/02;G01S17/66
  • 申请日期:
    2014-04-11
  • 申请人:
    赫克斯冈技术中心
著录项信息
专利名称测绘装置、利用其测绘目标物体的方法和计算机程序产品
申请号CN201410144257.4申请日期2014-04-11
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-10-15公开/公告号CN104101335A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C15/00IPC分类号G;0;1;C;1;5;/;0;0;;;G;0;1;S;1;7;/;0;2;;;G;0;1;S;1;7;/;6;6查看分类表>
申请人赫克斯冈技术中心申请人地址
瑞士赫尔布鲁格 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人赫克斯冈技术中心当前权利人赫克斯冈技术中心
发明人J·辛德林;J·舍加;C·L·E·迪穆兰;C·艾斯利
代理机构北京三友知识产权代理有限公司代理人王小东
摘要
本发明涉及测绘装置、利用其测绘目标物体的方法和计算机程序产品。测绘装置具有用于设立该测绘装置的基部和瞄准单元,瞄准单元能相对于基部绕两个轴线旋转且该瞄准单元限定用于瞄准待被测绘的目标物体的目标轴线。瞄准单元具有:用于沿待被测绘的目标物体的方向发射光辐射的第一光束路径;用于通过光电子接收元件接收从目标物体反射的光辐射的分量的第二光束路径。光束路径中的至少一个具有光学元件,该光学元件被实施为具有光学透明的、可变形的容积主体,该容积主体具有至少一个朝向具有从该容积主体偏离的光学折射率的介质的界面。界面能借助于多个电激活信号变形,使得因此光学元件的光学折射特性能在至少两个非一致的方向上不同地变化。

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