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利用受控电子束辐射将低-K聚合物并入层间电介质

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN98805439.6
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    1998-03-09
  • 申请人:
    联合讯号公司
著录项信息
专利名称利用受控电子束辐射将低-K聚合物并入层间电介质
申请号CN98805439.6申请日期1998-03-09
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2000-06-21公开/公告号CN1257610
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人联合讯号公司申请人地址
美国新泽西州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人联合讯号公司当前权利人联合讯号公司
发明人J·J·杨;L·弗雷斯特;D·K·蔡;S·Q·王;N·H·亨德里克
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人刘元金;周慧敏
摘要
一种制备应用于制造集成电路的基片的方法,其中,将旋涂低介电常数(低-k)聚合物薄膜施涂到半导体基片上。利用电子束辐射,完成了旋涂低-K聚合物薄膜的非深腐蚀过程,薄膜,特别是位于金属导线之间的薄膜没有失去低介电常数特性。将聚合物介电薄膜(7,8)施涂到基片上,并干燥之,再在足以使介电层部分固化的条件下将其在电子束辐射下曝光。曝光使介电层顶部(8)形成较高硬化,使介电层下部(7)形成较低硬化。

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