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用于电子元件中基准电压的自测试的方法和电路装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200480017699.7
  • IPC分类号:G01R19/165
  • 申请日期:
    2004-06-14
  • 申请人:
    皇家飞利浦电子股份有限公司
著录项信息
专利名称用于电子元件中基准电压的自测试的方法和电路装置
申请号CN200480017699.7申请日期2004-06-14
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2006-08-02公开/公告号CN1813196
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R19/165IPC分类号G;0;1;R;1;9;/;1;6;5查看分类表>
申请人皇家飞利浦电子股份有限公司申请人地址
美国特拉华 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人卡莱汉系乐有限公司当前权利人卡莱汉系乐有限公司
发明人M·卡德纳
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人王波波优先权
摘要
为了提供用于电子元件中基准电压的自测试的方法,利用该方法,对于可以实施为单片测试形式的基准电压自测试,定义电路装置,即,对此,不需要外部基准电压源,规定基准电压(Uref)为函数f(Uref)的变量,其在基准电压(Uref)的选择标称值(Uref test)所在的点上具有极值,并且在自测试中,对于基准电压(Uref)和对于两个另外的分别与基准电压(Uref)只相差小的正与负值(+ΔUref;-ΔUref)的测试电压(Uref+ΔUref;Uref-ΔUref),连续地确定该函数的值,以及对于这些值,相互进行比较,如果测试电压(Uref+ΔUref;Uref-ΔUref)的函数值在同一方向与基准电压(Uref)的函数值是不同的话,则将生成通过信号,或者如果否的话,将生成失败信号。

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