一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110539392.9
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2021-05-18
申请人：
合肥恒钧检测技术有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统
申请号	CN202110539392.9	申请日期	2021-05-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-13	公开/公告号	CN113253085A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	合肥恒钧检测技术有限公司	申请人地址	安徽省合肥市高新区习友路1699号阳光电源研发大楼二楼西侧变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	合肥恒钧检测技术有限公司	当前权利人	合肥恒钧检测技术有限公司
发明人	王浩然;王鼎奕;刘雷;王圣明
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	陈颖

摘要

本申请公开了一种功率半导体器件功率循环测试方法和系统，以使测试结果能够更加真实地反映被测器件的功率循环能力。该系统包括：测试电路和控制器；所述测试电路的主回路上串联有直流电源、第一开关单元、感性器件和被测器件，所述测试电路还包括所述感性器件的续流回路；所述控制器，用于控制所述第一开关单元循环通断，并且在所述第一开关单元开通期间控制被测器件循环通断，在所述第一开关单元关断期间通过冷却系统对被测器件进行冷却，以使被测器件的结温波动符合规定。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供