封装后的内存修复方法及装置、存储介质、电子设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202110033504.3
IPC分类号：G06F11/14
申请日期：
2021-01-12
申请人：
长鑫存储技术有限公司

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著录项信息

专利名称	封装后的内存修复方法及装置、存储介质、电子设备
申请号	CN202110033504.3	申请日期	2021-01-12
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-16	公开/公告号	CN112667445A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/14 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/07 响应错误的产生，例如，容错〔7〕 G06F11/14 用运算中的冗余作数据的错误检测或校正，例如，通过采用导致相同结果的不同运算序列（G06F 11/16优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;1;4查看分类表>
申请人	长鑫存储技术有限公司	申请人地址	安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	长鑫存储技术有限公司	当前权利人	长鑫存储技术有限公司
发明人	瞿振林;张文喜
代理机构	北京律智知识产权代理有限公司	代理人	王辉;阚梓瑄

摘要

本公开是关于一种封装后的内存修复方法及装置、计算机可读存储介质、电子设备，所述方法包括：在内存测试过程中，将所述内存的失效信息写入到SPD中，所述失效信息包括失效地址；在设备开机后，从所述SPD中读取所述失效地址，并确定所述失效地址所在的失效线路的数量；在所述失效线路的数量小于或等于冗余线路的数量时，使用所述冗余线路对所述失效线路进行修复；在所述失效线路的数量大于所述冗余线路的数量时，将所述失效信息加载到寄存器中。本公开实现了对失效地址的修复。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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