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基于光生载流子效应的拉曼光谱表征4H-SiC电学性质方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010848838.1
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2020-08-21
  • 申请人:
    天津大学
著录项信息
专利名称基于光生载流子效应的拉曼光谱表征4H-SiC电学性质方法
申请号CN202010848838.1申请日期2020-08-21
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2020-11-03公开/公告号CN111880072A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人天津大学申请人地址
天津市南开区卫津路92号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津大学当前权利人天津大学
发明人徐宗伟;刘涛;宋莹;王虹
代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所代理人程毓英
摘要
本发明涉及一种基于光生载流子效应的拉曼光谱表征4H‑SiC电学性质方法,步骤如下:选用紫外激光进行激发,保证在被测4H‑SiC样品中能够激发出光生载流子;选择适配于紫外激光光路的物镜,光栅刻线密度,并设置光谱仪积分时间和累积次数的数值;设置能完全覆盖4H‑SiC一阶拉曼峰的光谱扫描范围;通过调节光路中的衰减片来改变到达被测4H‑SiC表面的激光功率强度,分别选取不同激光功率对4H‑SiC样品进行拉曼光谱测试,得到不同激光功率激光激发条件下LOPC模对应的拉曼光谱实验数据;进行数学拟合;通过载流子浓度与激光功率之间的线性关系式计算得到被测4H‑SiC无光生载流子产生时的本征载流子浓度数值。

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