一种用于耦合腔加速结构的边耦合腔测量装置及边耦合腔测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011618129.0
IPC分类号：G01R23/02
申请日期：
2020-12-30
申请人：
中国原子能科学研究院

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著录项信息

专利名称	一种用于耦合腔加速结构的边耦合腔测量装置及边耦合腔测量方法
申请号	CN202011618129.0	申请日期	2020-12-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-07	公开/公告号	CN112763795A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R23/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R23/00 测量频率的装置；频谱分析装置 G01R23/02 频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置	IPC分类号	G;0;1;R;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人	中国原子能科学研究院	申请人地址	北京市房山区新镇三强路1号院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国原子能科学研究院	当前权利人	中国原子能科学研究院
发明人	杨誉;杨京鹤
代理机构	北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司	代理人	王鹏鑫

摘要

本发明公开了一种用于耦合腔加速结构的边耦合腔测量装置，包括网络分析仪、测量部和电缆。其中，所述测量部包括主体和同轴线；所述主体为形成有凹槽的铜管；所述同轴线的一端设有磁耦合环；所述同轴线位于所述主体中，且所述磁耦合环位于所述凹槽中；所述同轴线的另一端设有同轴射频接头；所述同轴射频接头通过所述电缆与所述网络分析仪连接。本发明的技术方案通过主体上的凹槽以及位于凹槽中的磁耦合环，既可以实现将待测边耦合腔两侧的加速腔完全短路，又可以为微波信号的激励和接收装置留出了空间，从而可以准确地获取边耦合腔的测试结果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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