电容器的寿命推断方法、电容器的寿命推断程序、信息处理装置以及电容器

发明专利有效专利

申请号：
CN201980063007.9
IPC分类号：G01R31/00;H01G13/00
申请日期：
2019-09-27
申请人：
日本贵弥功株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	电容器的寿命推断方法、电容器的寿命推断程序、信息处理装置以及电容器
申请号	CN201980063007.9	申请日期	2019-09-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-07	公开/公告号	CN112771392A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;H;0;1;G;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人	日本贵弥功株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	日本贵弥功株式会社	当前权利人	日本贵弥功株式会社
发明人	千才大蔵;古川敏彦
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	于靖帅;黄纶伟

摘要

包含有以下处理(处理部(8))：利用驱动条件(22，存储部(6))以及电容器的温度变化特性信息(24)来计算推断发热温度，该驱动条件至少包含有驱动时机信息(18)和驱动电流值信息(20)；利用推断发热温度来计算经过基准时间后的电容器的状态变化信息(28)；以及利用状态变化信息来计算电容器的寿命推断值(寿命推断结果(30))。由此，能够进行与在电容器中流动的驱动电流值的变动对应的电容器的寿命推断，并且能够确认电容器的适用性并提高使用电容器的设备的安全性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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