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凸块形成方法、半导体装置及其制造方法和半导体芯片

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN01141243.7
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2001-09-04
  • 申请人:
    精工爱普生株式会社
著录项信息
专利名称凸块形成方法、半导体装置及其制造方法和半导体芯片
申请号CN01141243.7申请日期2001-09-04
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2002-07-17公开/公告号CN1359147
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人精工爱普生株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人精工爱普生株式会社当前权利人精工爱普生株式会社
发明人松岛文明;太田勉;间箇部明
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人王勇;叶恺东
摘要
本发明涉及具有高可靠性、适合于狭窄间距的凸块形成方法、半导体装置及其制造方法、半导体芯片、电路基板及电子设备。本发明的凸块形成方法包括以在垫片12上具有贯通孔22的方式形成抗蚀剂层20、配合贯通孔22的形状形成与垫片12电连接的金属层(凸块34)的工序,把金属层(凸块34)形成为具有用于容纳焊料40的区域(凹部36)的形状。

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