一种光纤宏弯衰减测试的装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420412402.8
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2014-07-24
申请人：
江苏亨通光电股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种光纤宏弯衰减测试的装置
申请号	CN201420412402.8	申请日期	2014-07-24
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	江苏亨通光电股份有限公司	申请人地址	江苏省苏州市吴江区经济开发区亨通路100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江苏亨通光电股份有限公司	当前权利人	江苏亨通光电股份有限公司
发明人	庄云锋;顾志华;盛佳慧;徐美芳;张磊
代理机构	北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	汤东凤

摘要

本实用新型提供了一种光纤宏弯衰减测试的装置，其使得光纤缠绕时易固定、缠绕圈数均匀控制，也节约单次测试时光纤缠绕总圈数清点的时间、确保光纤缠绕总圈的准确度，确保光纤宏弯衰减测试的高效率及测试准确性。其包括底座，所述底座上布置有绕线柱，其特征在于：其还包括上板座，所述上板座的下端面通过直线滑动结构支承于所述底座的上端面，所述上板座的前后端宽度小于所述底座的前后端宽度，所述底座的上端面的前端位置排布有等径的第一绕线柱，所述第一绕线柱的下端通过第一连接杆布置于所述底座的上端面，所述第一绕线柱沿着所述底座的长度方向直线布置；相邻的所述第一绕线柱间留有间距，所述上板座的上端面排布有等径的第二绕线柱。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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