用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计

发明专利有效专利

申请号：
CN201580016320.9
IPC分类号：G01J1/02;G01J3/50
申请日期：
2015-03-11
申请人：
LMT光学测量技术（柏林）有限责任公司

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专利名称	用于取决于方向地测量光学辐射源的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计
申请号	CN201580016320.9	申请日期	2015-03-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-12-14	公开/公告号	CN106233103A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;5;0查看分类表>
申请人	LMT光学测量技术（柏林）有限责任公司	申请人地址	德国柏林变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	LMT光学测量技术（柏林）有限责任公司	当前权利人	LMT光学测量技术（柏林）有限责任公司
发明人	卡斯滕·第姆;托马斯·赖纳斯;迪特尔·索罗卡;康斯坦丁·雷德瓦尔德;彼得·兰格
代理机构	北京卓孚知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	任宇;刘光明

摘要

本发明涉及用于取决于方向地测量光学辐射源(S)的至少一个光度学或辐射测量学特征量的方法和测角辐射计。在此，光度学或辐射测量学特征量的辐射方向采用平面系统(A、B、C)以及在所观察的平面内给出了辐射方向(α、β、γ)的辐射角度(α、β、γ)来描述，所述平面系统的各平面相交于经过辐射源的辐射重心的交线。传感器(SR)或辐射源(S)在测量中运动，使得传感器(SR)记录测量值，所述测量值在围绕辐射源(S)的辐射重心(LS)的球面上给出了光度学或辐射测量学特征量。建议将传感器(SR)或辐射源(S)固定在多轴枢转臂机器人上，且使机器人在检测测量值的测量过程期间围绕所述机器人的仅一个轴(A1、A6)枢转，其中所述测量值涉及平面系统(A、B、C)的一个所观察的平面内的不同的辐射角度(α、β、γ)或对于一个所观察的辐射角度(α、β、γ)涉及不同的平面。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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