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CCD/CMOS参数检测系统

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201820015438.0
  • IPC分类号:H04N17/00
  • 申请日期:
    2018-01-05
  • 申请人:
    长春理工大学
著录项信息
专利名称CCD/CMOS参数检测系统
申请号CN201820015438.0申请日期2018-01-05
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04N17/00IPC分类号H;0;4;N;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人长春理工大学申请人地址
吉林省长春市卫星路7089# 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人长春理工大学当前权利人长春理工大学
发明人谭勇;辛敏思;贾强;赵猛;陈新邑;蔡红星;刘立欣;张赤军
代理机构吉林省长春市新时代专利商标代理有限公司代理人高一明
摘要
本实用新型提供一种CCD/CMOS参数检测系统,包括:硬件检测装置、控制装置,硬件检测装置包括工作平台,在工作平台上设置有积分球和光学暗室,在积分球上设置有三个光源、照度计探头和出光口,在出光口处设置有鉴别率板,在光学暗室内设置有变焦调节机构、光学镜头精密调节平台、CCD/CMOS精密调节夹具、变焦透镜组、待测CCD/COMS,待测CCD/COMS、变焦透镜组与第二出光口成一条直线;在工作平台内设置有工控机、照度计、三个光源的驱动电源、CCD/CMOS供电电源;控制装置包括电源控制器和多功能采集卡,电源控制器分别与工控机、三个驱动电源连接,多功能采集卡插在工控机内,通过数据线与待测CCD/COMS连接。利用本实用新型不受外界光源干扰,还能够模拟自然光下CCD/CMOS的测试。

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