芯片测试方法及芯片测试系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010193909.9
IPC分类号：B07C5/344;B07C5/36
申请日期：
2020-03-18
申请人：
广东利扬芯片测试股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	芯片测试方法及芯片测试系统
申请号	CN202010193909.9	申请日期	2020-03-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-30	公开/公告号	CN111346845A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B07C5/344 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B0 分离；混合 B07 将固体从固体中分离；分选 B07C 邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选（专门适用于特定用途的并已包含在其他类的，参看有关的类，如A43D 33/06、B23Q 7/12） B07C5/00 按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选（仅用手工的分选入B07C 7/00；用筛，过滤，筛选或用气流或适用于散装材料的其他干式分离法将固体从固体中分离入B07B；硬币的分选入G07D）〔3〕 B07C5/34 根据其他特殊性质来分选 B07C5/344 根据电或电磁性质	IPC分类号	B;0;7;C;5;/;3;4;4;;;B;0;7;C;5;/;3;6查看分类表>
申请人	广东利扬芯片测试股份有限公司	申请人地址	广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广东利扬芯片测试股份有限公司	当前权利人	广东利扬芯片测试股份有限公司
发明人	周祥;唐绪伟;钟峰;袁俊;张亦锋;郑挺;郑朝生;袁刚;张会战;辜诗涛;魏强;容承昌;卢旭坤
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	张艳美;王志

摘要

本发明公开一种芯片测试方法，用于芯片测试系统，芯片测试系统包括测试机和分类机，测试机包括有多个测试单元，芯片测试方法包括：配置测试机执行：通过各测试单元测试芯片；根据各测试单元的测试结果与预先配置的映射关系生成bin信号；将bin信号传送至分类机；配置分类机执行：接收bin信号；根据预先配置的bin信号与各出料口之间的对应关系将芯片放置在对应的出料口的料盘上；记录芯片在料盘的位置信息，并依据各芯片的位置信息和其对应的bin信号生成map图，实现了将芯片的测试结果细致化，工作人员可以通过map图直接看出芯片在各个测试单元的测试结果和不良品分布详情，以便于作出对应的改善方案。另，本发明还公开一种芯片测试系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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