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一种透射电镜粉末试样的制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201010131319.X
  • IPC分类号:G01N1/28;G01N1/34;G01N1/32;C23C14/35
  • 申请日期:
    2010-03-24
  • 申请人:
    国家纳米技术与工程研究院
著录项信息
专利名称一种透射电镜粉末试样的制备方法
申请号CN201010131319.X申请日期2010-03-24
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2011-09-28公开/公告号CN102200497A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N1/28IPC分类号G;0;1;N;1;/;2;8;;;G;0;1;N;1;/;3;4;;;G;0;1;N;1;/;3;2;;;C;2;3;C;1;4;/;3;5查看分类表>
申请人国家纳米技术与工程研究院申请人地址
天津市经济技术开发区第四大街80号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人国家纳米技术与工程研究院当前权利人国家纳米技术与工程研究院
发明人范洪涛;王莉
代理机构暂无代理人暂无
摘要
一种透射电镜粉末试样的制备方法为:将一可溶性单晶材料,按其解理面切出表面平整的一块晶体;将电镜载网放置于切下的单晶块上;将待观察的粉末样品用无水乙醇超声分散,取适量分散好的液体滴于载网之上,自然风干;采用磁控溅射技术,溅射沉积一层金属薄膜,用所沉积的薄膜将待分析颗粒包覆固定于载网之上;溅射完毕之后,沿着载网边缘将溅射薄膜剪掉;将固定有待分析颗粒的载网放入离子减薄仪减薄,直至减漏为止;待样品中心穿孔后即可取下放入电镜中观察。该方法解决了许多颗粒大、结构复杂、不易粉碎或者不能粉碎粉末样品的制样困难,解决了观察区域受限,制样容易污染的问题,是一种制样成功率高,适应性强的制样方法。

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