一种嵌入式设备固件解压成功的判断方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510855073.3
IPC分类号：G06K9/62
申请日期：
2015-11-30
申请人：
中国科学院信息工程研究所

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著录项信息

专利名称	一种嵌入式设备固件解压成功的判断方法
申请号	CN201510855073.3	申请日期	2015-11-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-04-13	公开/公告号	CN105488531A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06K9/62 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06K 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理（印刷本身入B41J） G06K9/00 用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置（用于图表阅读或者将诸如力或现状态的机械参量的图形转换为电信号的方法或装置入G06K 11/00；语音识别入G10L 15/00）〔1，7〕 G06K9/62 应用电子设备进行识别的方法或装置〔3〕	IPC分类号	G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人	中国科学院信息工程研究所	申请人地址	北京市海淀区闵庄路甲89号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院信息工程研究所,国家计算机网络与信息安全管理中心	当前权利人	中国科学院信息工程研究所,国家计算机网络与信息安全管理中心
发明人	石志强;刘中金;王猛涛;陈昱;常青;孙利民;何跃鹰
代理机构	北京君尚知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	邱晓锋

摘要

本发明涉及一种嵌入式设备固件解压成功的判断方法，其主要步骤包括：试验样本集固件收集、固件熵谱获取、固件熵谱指纹特征提取、分类器训练及固件是否解压成功的判断。该方法采用处理图像信号的方法对固件熵谱作相应处理，提取了固件熵谱的多域综合特征；利用正向熵阈值和负向熵阈值之间的回差有效避免了熵值在多次穿越单一阈值时所产生的干扰；在训练分类器时，首先对固件熵谱特征作Z‑Score标准化处理，再采用机器学习的思想和K折交叉验证的方法对分类器进行多次交叉重复训练；对于待测试固件，通过加权统计的方法对各分类器判断结果进行累计加权统计，以次数居多者作为对固件是否解压成功的最终判定结果，保证了所得结果的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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