测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201720188205.6
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2017-02-28
申请人：
深圳市芯思杰联邦国际科技发展有限公司

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著录项信息

专利名称	测试装置
申请号	CN201720188205.6	申请日期	2017-02-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	深圳市芯思杰联邦国际科技发展有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园A5栋4楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市芯思杰联邦国际科技发展有限公司	当前权利人	深圳市芯思杰联邦国际科技发展有限公司
发明人	刘格;杨彦伟;陆一峰;刘胜宇;徐虎
代理机构	北京友联知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	尚志峰;汪海屏

摘要

本实用新型提供了一种测试装置，包括：底座和顶板，以及连接于底座和顶板之间的多个连接柱，还包括：第一支架，第一支架与顶板连接；第二支架，第二支架与顶板连接；放片台顶柱，设置在底座上，放片台顶柱上安装有放片台，其中，放片台呈圆台状，放片台的侧面设有第一孔，放片台的上面设有与第一孔连通的第二孔。通过本实用新型的技术方案，降低了被测芯片带宽的测试成本，同时提高了被测芯片的测试效率，提高其经济性的同时，增强产品的竞争力。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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