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嵌入式装置的芯片上模数转换器(ADC)线性度测试

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201580009861.9
  • IPC分类号:H03M1/10;H03M1/12
  • 申请日期:
    2015-03-02
  • 申请人:
    德州仪器公司
著录项信息
专利名称嵌入式装置的芯片上模数转换器(ADC)线性度测试
申请号CN201580009861.9申请日期2015-03-02
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-10-26公开/公告号CN106063132A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03M1/10IPC分类号H;0;3;M;1;/;1;0;;;H;0;3;M;1;/;1;2查看分类表>
申请人德州仪器公司申请人地址
美国德克萨斯州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人德州仪器公司当前权利人德州仪器公司
发明人科马克·哈林顿;肯·穆舍吉安;安德鲁·阿勒曼
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人林斯凯
摘要
在所描述的实例中,测试ADC的线性度的方法包含接收(1310)指示ADC输入电压阶跃调整的触发信号,及当接收所述触发信号时读取(1311)ADC输出样本。所述ADC输出样本具有对应于N个离散ADC输出代码的N个整数值的值范围。此外,所述方法包含针对M个连续ADC输出代码计算(1312)代码发生的直方图。所述直方图包含对应于所述M个连续ADC输出代码的M个方格,其中M小于N。此外,所述方法包含根据所述直方图以K个ADC输出样本读数的间隔更新DNL值及INL值,及在更新所述DNL值及所述INL值之后将所述直方图移位(1330)一个ADC输出代码。

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