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基于改进SIFT-Delaunay的异源图像配准方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010952773.5
  • IPC分类号:G06T7/33
  • 申请日期:
    2020-09-11
  • 申请人:
    西安电子科技大学
著录项信息
专利名称基于改进SIFT-Delaunay的异源图像配准方法
申请号CN202010952773.5申请日期2020-09-11
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-12-01公开/公告号CN112017223A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/33IPC分类号G;0;6;T;7;/;3;3查看分类表>
申请人西安电子科技大学申请人地址
陕西省西安市雁塔区太白南路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安电子科技大学当前权利人西安电子科技大学
发明人梁毅;刘倩;李聪
代理机构西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人惠文轩
摘要
本发明涉及图像配准技术领域,公开了一种基于改进SIFT‑Delaunay的异源图像配准方法,首先对SAR图像进行PPB滤波,这是一种空域滤波的算法,可以在去除SAR图像所产的相干斑噪声的同时还能有效保持边缘特性。然后在提取特征点时采用和传统的SIFT算法一样的方法,特征点梯度的计算采用改进的指数加权均值比算子,得到精度较高的边缘强度信息。最后在特征点的配准过程采用欧氏距离进行粗配准,采用Delaunay三角网格的方法进行特征点的精配准,Delaunay三角网格具有唯一性,其对图像的平移、旋转和几何畸变具有较好的不变性。

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