X射线诊断装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200980106292.4
IPC分类号：A61B6/00;G01T1/20;G01T1/24
申请日期：
2009-03-02
申请人：
株式会社日立医疗器械

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法律信息

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著录项信息

专利名称	X射线诊断装置
申请号	CN200980106292.4	申请日期	2009-03-02
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-01-26	公开/公告号	CN101959461A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B6/00 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B6/00 用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的（应用在核医疗学方面的测量辐射强度的仪器，如在体内计数的入G01T1/161；用于X光摄影的设备入G03B42/02）	IPC分类号	A;6;1;B;6;/;0;0;;;G;0;1;T;1;/;2;0;;;G;0;1;T;1;/;2;4查看分类表>
申请人	株式会社日立医疗器械	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社日立制作所	当前权利人	株式会社日立制作所
发明人	竹之内忍;铃木克己
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司	代理人	谢丽娜;关兆辉

摘要

提供能够适当掌握X射线平面检测器的缺陷元件的状态的X射线诊断装置。X射线装置具有：具有X射线管的X射线发生器(10)、与X射线发生器(10)相对配置的X射线平面检测器(14)、基于X射线平面检测器(14)读出的X射线图像数据进行图像处理的图像处理单元(24)、和对进行了该图像处理的X射线图像或透视图像进行显示的显示单元(34)，该X射线装置包括：缺陷像素检测单元(26)，根据X射线图像数据的像素信息，检测与X射线平面检测器(14)的缺陷元件对应的缺陷像素；异常判断单元(32)，基于检测出的缺陷像素及其周围的缺陷像素，检测X射线平面检测器(14)的缺陷元件的聚块程度，判断X射线平面检测器是否异常。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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