一种高精度二维位置传感器对心检测装置和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010114036.8
IPC分类号：G01B11/24;G01B11/26;G01B11/00;G01M11/02
申请日期：
2020-02-24
申请人：
中国科学院光电技术研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种高精度二维位置传感器对心检测装置和方法
申请号	CN202010114036.8	申请日期	2020-02-24
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-12	公开/公告号	CN111272095A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;2;6;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国科学院光电技术研究所	申请人地址	四川省成都市双流350信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院光电技术研究所	当前权利人	中国科学院光电技术研究所
发明人	陈林;李杰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种高精度二维位置传感器对心检测装置和方法，主要用于光学测距传感器光轴姿态调整，与转台轴心线的快速对心调整，并精确测量对心误差。该装置由多维调整机构、光学测距传感器、二维位置传感器、固定装置、转台组成。二维位置传感器测量光学测距传感器光斑中心的位置，调整测距传感器不同位置高度，测量测距传感器光斑中心在对应位置的坐标数据，通过数据处理得到测距传感器的姿态；随着转台转动，测量光学测距传感器光斑中心在转台对应位置的坐标数据，通过数据处理得到光学测距传感器光轴与转台轴心线相对位置关系以及对心误差。本发明采用二维位置传感器进行姿态调整、对心调整和检测，调整精度高，检测精度高、重复性好。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供