专利名称 | X射线发生装置,X射线摄像装置及X射线检查系统 | ||
申请号 | CN00805552.1 | 申请日期 | 2000-03-02 |
法律状态 | 权利终止 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2002-05-22 | 公开/公告号 | CN1350769 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | H05G1/30 | IPC分类号 | H;0;5;G;1;/;3;0;;;H;0;1;J;3;5;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表> |
申请人 | 浜松光子学株式会社 | 申请人地址 | 日本静冈县
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 浜松光子学株式会社 | 当前权利人 | 浜松光子学株式会社 |
发明人 | 平野雅之;川上博己 | ||
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙淳 |
专利权有效期届满
IPC(主分类): H05G 1/30 专利号: ZL 00805552.1 申请日: 2000.03.02 授权公告日: 2006.10.04
授权
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公布
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实质审查的生效
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序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有引用任何外部专利数据! |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有被任何外部专利所引用! |
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