精密驱动位移测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201811475068.X
IPC分类号：G01B21/02
申请日期：
2018-12-04
申请人：
杨斌堂

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	精密驱动位移测量装置
申请号	CN201811475068.X	申请日期	2018-12-04
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2019-02-19	公开/公告号	CN109357651A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人	杨斌堂	申请人地址	上海市闵行区东川路811弄64号402室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杨斌堂	当前权利人	杨斌堂
发明人	杨斌堂;杨诣坤
代理机构	上海段和段律师事务所	代理人	李佳俊;郭国中

摘要

本发明提供了一种精密驱动位移测量装置，包含尺蠖驱动器与测量元件，所述尺蠖驱动器包含驱动壳体与输出件，驱动壳体上设置有滑移开口，所述输出件滑动安装在滑移开口中；所述驱动壳体上还设置有箝位件与驱动件；所述测量元件安装在以下任一个或任多个位置上箝位件、驱动件、输出件。本发明采用的尺蠖驱动器能够在外形尺寸较小的情况下，实现平稳、大行程、高输出的直线驱动，通过测量元件还能对输出位移进行准确测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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