专利名称 | 自动测试设备实现匹配测试的方法 | ||
申请号 | CN200710094440.8 | 申请日期 | 2007-12-13 |
法律状态 | 暂无 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2009-06-17 | 公开/公告号 | CN101458301 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01R31/317 | IPC分类号 | 查看分类表> |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 申请人地址 |
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 当前权利人 | |
发明人 | 辛吉升;桑浚之;陈婷;夏奇峰 | ||
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 蔡光亮 |
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