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自动测试设备实现匹配测试的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200710094440.8
  • IPC分类号:G01R31/317G01R31/3183
  • 申请日期:
    2007-12-13
  • 申请人:
    上海华虹NEC电子有限公司
著录项信息
专利名称自动测试设备实现匹配测试的方法
申请号CN200710094440.8申请日期2007-12-13
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2009-06-17公开/公告号CN101458301
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/317IPC分类号G01R31/317;G01R31/3183查看分类表>
申请人上海华虹NEC电子有限公司申请人地址
变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海华虹宏力半导体制造有限公司当前权利人上海华虹宏力半导体制造有限公司
发明人辛吉升;桑浚之;陈婷;夏奇峰
代理机构上海浦一知识产权代理有限公司代理人蔡光亮
摘要
本发明公开了一种自动测试设备实现匹配测试的方法,所述方法包括下列步骤:第1步,形成测试向量,所述测试向量包括多个重复的向量段,每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出;第2步,通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量,将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较,并将比较结果输出为文件;第3步,分析输出文件,当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功,否则表示匹配测试失败。本发明可以使不具有或仅具有简单匹配测试功能的自动测试设备实现匹配测试功能,从而满足某些特殊芯片的测试要求,扩展自动测试设备的应用范围。

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