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对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110424160.5
IPC分类号：G01R31/317
申请日期：
2011-12-16
申请人：
中国科学院微电子研究所;中国科学院半导体研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法
申请号	CN201110424160.5	申请日期	2011-12-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-06-19	公开/公告号	CN103163448A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/317 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;7查看分类表>
申请人	中国科学院微电子研究所;中国科学院半导体研究所	申请人地址	北京市朝阳区北土城西路3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院微电子研究所,中国科学院半导体研究所	当前权利人	中国科学院微电子研究所,中国科学院半导体研究所
发明人	于芳;赵岩
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	周国城

摘要

本发明公开了一种对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法，该方法包括：步骤101：横向配置；步骤102：横向测试；步骤103：横向延迟测试；步骤104：纵向配置；步骤105：纵向测试；步骤106：纵向延迟测试；步骤107：定位延迟故障。

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