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光栅机械刻划工艺试验装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310305382.4
  • IPC分类号:B26D3/08;B26D5/00;G02B5/18
  • 申请日期:
    2013-07-19
  • 申请人:
    长春理工大学
著录项信息
专利名称光栅机械刻划工艺试验装置
申请号CN201310305382.4申请日期2013-07-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-11-20公开/公告号CN103395090A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B26D3/08IPC分类号B;2;6;D;3;/;0;8;;;B;2;6;D;5;/;0;0;;;G;0;2;B;5;/;1;8查看分类表>
申请人长春理工大学申请人地址
吉林省长春市朝阳区卫星路7089号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人长春理工大学当前权利人长春理工大学
发明人石广丰;史国权;宋林森;王磊;肖为;吕洋洋;蔡宏彬;丁健生;胡明亮;周锐奇
代理机构长春菁华专利商标代理事务所代理人陶尊新
摘要
光栅机械刻划工艺试验装置属于光栅工艺技术领域。现有技术无法调节刻划刀具装夹角度,无法调整工件水平度。在本发明中,龙门悬架安装在底座上,刀架刚性悬挂在龙门悬架横梁中部;刻划刀具安装在刀架下端;定位平台与刀架在Z方向上对应并安装在底座上;定位平台中的直线位移平台由X向平移平台、Y向平移平台、Z向平移平台三者叠加连接而成;龙门悬架的两根立柱竖直固定在底座上,横梁两端与两根立柱内侧通过燕尾槽连接;定位平台中的弧线位移平台由X轴弧线位移平台与Y轴弧线位移平台叠加而成;直线位移平台与弧线位移平台叠加连接在一起;XYZ三向微力测力仪位于定位平台上部;刀架中的X轴调节座、Y轴调节座、Z轴调节座三者叠加连接在一起。

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