一种双界面IC卡的测试方法及设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201510354755.6
IPC分类号：G06K17/00
申请日期：
2015-06-24
申请人：
武汉天喻信息产业股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种双界面IC卡的测试方法及设备
申请号	CN201510354755.6	申请日期	2015-06-24
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-09-16	公开/公告号	CN104915695A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06K17/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06K 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理（印刷本身入B41J） G06K17/00 在包括G06K 1/00至G06K 15/00两个或多个大组中的设备之间实现协同作业的方法或装置，例如，结合有传送和读数操作的自动卡片文件	IPC分类号	G;0;6;K;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	武汉天喻信息产业股份有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖开发区华中科技大学科技园天喻大厦变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉天喻信息产业股份有限公司	当前权利人	武汉天喻信息产业股份有限公司
发明人	李晓俊;杨勋
代理机构	北京捷诚信通专利事务所（普通合伙）	代理人	王卫东

摘要

本发明公开了一种双界面IC卡的测试方法及设备，涉及双界面IC卡测试技术领域。该方法包括：根据待测的双界面IC卡支持的功能，创建多个功能测试库；读取双界面IC卡的信息，根据双界面IC卡的信息和测试需求选择对应的功能测试库作为待测功能测试库，导入待测功能测试库的数据；利用待测功能测试库的数据对待测的双界面IC卡进行测试；判断测试是否通过，若是，输出正确测试结果，结束；否则返回错误提示信息，输出错误测试结果，结束。本发明能够实现双界面IC卡的自动化测试，降低工作强度，提高工作效率，且有效地保证了双界面IC卡的产品质量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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