基于宽带反射系数曲线曲率分析的等离子体参数诊断方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010038849.3
IPC分类号：H05H1/00
申请日期：
2020-01-14
申请人：
西安电子科技大学

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著录项信息

专利名称	基于宽带反射系数曲线曲率分析的等离子体参数诊断方法
申请号	CN202010038849.3	申请日期	2020-01-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-05-26	公开/公告号	CN111200896A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H05H1/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H05 其他类目不包含的电技术 H05H 等离子体技术（离子束管入H01J 27/00；磁流体发电机入H02K 44/08；涉及生成等离子体的产生X射线的入H05G 2/00）；加速的带电粒子或中子的产生（从放射源获取中子的入G21，例如：G21B，G21C，G21G）；中性分子或原子射束的产生或加速（原子钟入G04F 5/14；受激发射器件入H01S；通过与由分子、原子或亚原子粒子的能级所确定的基准频率相比较而进行频率调整的入H03L 7/26） H05H1/00 等离子体的产生；等离子体的处理（等离子体技术在热核聚变反应器的应用入G21B 1/00）	IPC分类号	H;0;5;H;1;/;0;0查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市长安区西沣路兴隆段266号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	杨敏;耿嘉;李小平;刘彦明;张浩杰;刘浩岩;李彦龙;汤健成;董鹏
代理机构	西安知诚思迈知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种基于宽带反射系数曲线曲率分析的等离子体参数诊断方法，通过扫频信号源发送一定频带宽度内的多个频点电磁波，入射到等离子体中产生反射，测量反射信号的回波损耗，经过标定算法和去噪平滑处理后，得到由等离子引起的各个频率信号的复反射系数，反推解算得到各个频点对应的等离子体参数电子密度和碰撞频率；将复反射系数投影到复平面上，得到多频点数据拟合曲线，确定各个频点反推解算结果的置信度权值；将反推解算的各个频点对应的等离子体参数电子密度、碰撞频率分别与各自置信度权值相乘再求和，即得。本发明可以同时获得等离子体的电子密度和碰撞频率，且无需测量反射信号的时间延迟，准确度高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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