片上系统中高速超宽总线故障测试系统和方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110142785.2
IPC分类号：G01R31/3177
申请日期：
2011-05-31
申请人：
上海大学

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著录项信息

专利名称	片上系统中高速超宽总线故障测试系统和方法
申请号	CN201110142785.2	申请日期	2011-05-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-01-18	公开/公告号	CN102323536A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3177 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3177 逻辑运行的测试，例如用逻辑分析仪〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;7查看分类表>
申请人	上海大学	申请人地址	上海市宝山区上大路99号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海大学	当前权利人	上海大学
发明人	张金艺;丁梦玲;李娇;段苏阳;吴玉见;王春华
代理机构	上海上大专利事务所（普通合伙）	代理人	何文欣

摘要

本发明涉及一种片上系统中高速超宽总线故障测试系统和方法。它包含有为完善片上系统可测试性而增加的电路和基于此电路运行的测试流程，其电路由一个测试访问通道组、六条测试链路和一组高速超宽总线测试控制线组成；其测试流程由单向型高速超宽总线测试流程和双向型高速超宽总线测试流程组成。采用本发明，能够对片上系统中的高速超宽总线实现全面的测试访问，完成高速超宽总线上信号完整性故障和固定逻辑值故障的测试，并且能够保证各条总线在测试过程中的相互隔离和有效控制。本发明电路结构简单、测试流程简捷，适用于片上系统中各种类型的高速超宽总线。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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