用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备、用于自动测试一个或多个被测设备的方法、及使用缓冲存储器的计算机程序

发明专利有效专利

申请号：
CN202080005127.6
IPC分类号：G01R31/319;G01R31/3193
申请日期：
2020-01-22
申请人：
爱德万测试公司

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著录项信息

专利名称	用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备、用于自动测试一个或多个被测设备的方法、及使用缓冲存储器的计算机程序
申请号	CN202080005127.6	申请日期	2020-01-22
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-23	公开/公告号	CN112703409A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/319 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/319 测试器硬件，即输出处理电路〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;9;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;9;3查看分类表>
申请人	爱德万测试公司	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱德万测试公司	当前权利人	爱德万测试公司
发明人	奥拉夫·波佩;克劳斯-迪特尔·稀里格斯;艾伦·克雷奇
代理机构	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司	代理人	朱亦林

摘要

一种用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备包括多个端口处理单元，该多个端口处理单元至少包括：相应的缓冲存储器，以及相应的高速输入输出HSIO接口，该HSIO接口用于与被测设备中的至少一个连接。端口处理单元被配置为：接收数据，将所接收到的数据存储在相应的缓冲存储器中，并且经由相应的HSIO接口将存储在相应的缓冲存储器中的数据提供给一个或多个所连接的被测设备，以用于测试一个或多个所连接的被测设备。还描述了用于自动测试一个或多个被测设备的方法和计算机程序。

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