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一种基于局部特征的低秩稀疏分解高光谱异常检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010384573.4
  • IPC分类号:G06T7/00;G01N21/17
  • 申请日期:
    2020-05-08
  • 申请人:
    中国石油大学(华东)
著录项信息
专利名称一种基于局部特征的低秩稀疏分解高光谱异常检测方法
申请号CN202010384573.4申请日期2020-05-08
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-08-25公开/公告号CN111583230A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/00IPC分类号G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;1;7查看分类表>
申请人中国石油大学(华东)申请人地址
山东省青岛市黄岛区长江西路66号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国石油大学(华东)当前权利人中国石油大学(华东)
发明人许明明;张燕;刘善伟
代理机构暂无代理人暂无
摘要
为提高高光谱目标探测的精度,针对高光谱异常目标检测中缺乏基于局部特征的低秩信息,提出一种基于局部特征的低秩稀疏矩阵分解高光谱异常目标检测方法。该方法在传统的低秩稀疏矩阵分解方法的基础之上,根据高光谱图像背景的低秩性与异常目标的稀疏性,进一步将高光谱图像背景部分细化表示基矩阵B和系数矩阵C的乘积,构建基于局部特征的高光谱图像描述模型;然后,构建新的基矩阵B、系数矩阵C的与稀疏部分S迭代更新规则;最后,根据求解结果执行异常目标探测。实验证明该方法能够提升高光谱异常目标检测精度。

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