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半导体封装方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110781001.4
  • IPC分类号:H01L21/50
  • 申请日期:
    2021-07-09
  • 申请人:
    苏州汉天下电子有限公司
著录项信息
专利名称半导体封装方法
申请号CN202110781001.4申请日期2021-07-09
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2021-11-02公开/公告号CN113594051A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/50IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;5;0查看分类表>
申请人苏州汉天下电子有限公司申请人地址
江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区15幢301和302室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人苏州汉天下电子有限公司当前权利人苏州汉天下电子有限公司
发明人郜振豪;杨清华;唐兆云;赖志国
代理机构北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙)代理人陈红;陈轶兰
摘要
一种半导体封装方法,包括:提供基板,包括暴露在阻焊层外的至少一个芯片安装区和芯片安装区周围的多个焊盘区;在基板上贴合保护膜,覆盖至少一个芯片安装区、多个焊盘区和阻焊层;去除部分保护膜,暴露至少一个芯片安装区;在至少一个芯片安装区上涂覆粘结剂,放置芯片,并固化粘结剂;去除剩余的保护膜,暴露多个焊盘区;在多个焊盘区执行引线键合。依照本发明的半导体封装方法,在涂覆粘结剂之前贴合保护膜覆盖焊盘区,有效地避免粘结剂溢出到基板上的键合焊盘区,提高产品制程和良率。

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