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一种硅片表面损伤层去除装置

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201120323549.6
  • IPC分类号:B24B19/22;B24D3/00
  • 申请日期:
    2011-08-31
  • 申请人:
    浙江光益硅业科技有限公司
著录项信息
专利名称一种硅片表面损伤层去除装置
申请号CN201120323549.6申请日期2011-08-31
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B24B19/22IPC分类号B;2;4;B;1;9;/;2;2;;;B;2;4;D;3;/;0;0查看分类表>
申请人浙江光益硅业科技有限公司申请人地址
浙江省衢州市常山县新都工业园区 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人浙江光益硅业科技有限公司当前权利人浙江光益硅业科技有限公司
发明人汪贵发;蒋建松
代理机构杭州裕阳专利事务所(普通合伙)代理人江助菊
摘要
本实用新型公开了一种硅片表面损伤层去除装置,作为本实用新型的改进,包括弹性固定体,所述的弹性固定体两端至中间渐厚,弹性固定体底面设有可随弹性固定体弹性弯折的磨料层。本实用新型通过在一弹性固定体上设置磨料层构成一机械打磨装置,可通过手动或机动打磨消除硅片表面的损伤层,两侧至中间渐厚的弹性固定体在使用过程中可形成阶梯或无极变化的预紧力,可避免因施力不当造成的硅片损坏和满足不同场合的需要。有益效果是通过可靠的机械打磨带体化学方法避免化学品污染环境及损害操作人员身心健康。

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